原子吸收光度計是根據物質基態原子蒸汽對特征輻射吸收的作用來進行金屬元素分析，它能夠靈敏可靠地測定微量或痕量元素。該儀器一般由四大部分組成，即光源（單色銳線輻射源）、試樣原子化器、單色儀和數據處理系統（包括光電轉換器及相應的檢測裝置）。

　　當在兩極之間施加200V-500V電壓時，便產生輝光放電。在電場作用下，電子在飛向陽極的途中，與載氣原子碰撞并使之電離，放出二次電子，使電子與正離子數目增加，以維持放電。正離子從電場獲得動能。

　　如果正離子的動能足以克服金屬陰極表面的晶格能，當其撞擊在陰極表面時，就可以將原子從晶格中濺射出來。除濺射作用之外，陰極受熱也要導致陰極表面元素的熱蒸發。濺射與蒸發出來的原子進入空腔內，再與電子、原子、離子等發生第二類碰撞而受到激發，發射出相應元素的特征的共振輻射。

　　原子吸收光度計在使用過程中，會受到以下因素的干擾：

　　1、光譜干擾：此干擾主要是樣品中存在其它元素造成的干擾。此干擾近年來因中空陰極射線技術的提升已很少發生。

　　2、基質干擾：一般此干擾原因有：

　　（1）溶液中含有機溶劑而造成吸收度的增加。

　　（2）因溶液的黏滯性較高因霧化效率下降而造成吸收度下降。

　　（3）溶液的鹽度較高而造成吸收度下降。

　　3、化學干擾：此干擾常發生于利用原子吸收來分析鎂、鈣、鍶及鋇等金屬。常見的干擾物種有硅酸鹽、磷酸鹽及鋁酸鹽等化合物。一般解決的方法有兩種，一為利用螯合劑(EDTA)與金屬錯合，二為添加氯化鑭與造成干擾的陰離子錯合或者可利用笑氣-乙炔來解決化學干擾的問題。

　　4、放射干擾：此干擾主要來自于樣品放射出與欲吸收的波長相同。此干擾可藉由提高電流強度或降低狹縫寬度來解決。

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